Previous Product Next Product SRF niobium characterization using SIMS and FIB-TEM ₩4,000 SRF niobium characterization using SIMS and FIB-TEM 수량 장바구니 카테고리: 과학기술 정보 (유료), 러시아 및 CIS 국가 과학기술정보 상품평 (0) 상품평 아직 상품평이 없습니다. “SRF niobium characterization using SIMS and FIB-TEM”의 첫 상품평을 남겨주세요 응답 취소상품평 작성을 위해 로그인이 필요합니다. 연관 상품 Quick View Cool new technique allows easier measurements of key particle propertyLog in to view price and purchase Quick View One-dimensional Anderson insulators predicted to host the bulk photovoltaic effectLog in to view price and purchase Quick View Two-dimensional materials and interfaces can convert spin current into a vortex of charge currentLog in to view price and purchase
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